CCD wafer

CCD under inspection at the detector lab at the ESO Headquarters in Garching. This image was obtained in 1997.

Kredit:

ESO/H.H.Heyer

O snímku

Id:ccd-wafer_jun1997
Typ:Fotografický
Datum zveřejnění:3. prosince 2009 23:18
Velikost:5079 x 3390 px

O objektu

Jméno:ESO HQ Garching
Typ:Unspecified : Technology : Observatory : Instrument
Unspecified : Technology : Observatory : Facility
Kategorie:Premises

Image Formats


Zvětšovatelný


Pozadí

1024x768
240,9 KB
1280x1024
380,9 KB
1600x1200
530,1 KB
1920x1200
629,4 KB
2048x1536
836,7 KB