CCD wafer

CCD under inspection at the detector lab at the ESO Headquarters in Garching. This image was obtained in 1997.

Crédit:

ESO/H.H.Heyer

À propos de l'image

Identification:ccd-wafer_jun1997
Type:Photographique
Date de publication:3 décembre 2009 23:18
Taille:5079 x 3390 px

À propos de l'objet

Nom:ESO HQ Garching
Type:Unspecified : Technology : Observatory : Instrument
Unspecified : Technology : Observatory : Facility
Catégorie:Premises

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