CCD wafer

CCD under inspection at the detector lab at the ESO Headquarters in Garching. This image was obtained in 1997.

Źródło:

ESO/H.H.Heyer

O zdjęciu

Identyfikator:ccd-wafer_jun1997
Typ:Fotograficzny
Data publikacji:3 grudnia 2009 23:18
Rozmiar:5079 x 3390 px

O obiekcie

Nazwa:ESO HQ Garching
Typ:Unspecified : Technology : Observatory : Instrument
Unspecified : Technology : Observatory : Facility
Kategoria:Premises

Formaty zdjęć

Pełen rozmiar
49,3 MB
Wielki JPEG
3,7 MB
JPEG do druku
3,9 MB

Powiększenie


Tapety

1024x768
240,9 KB
1280x1024
380,9 KB
1600x1200
530,1 KB
1920x1200
629,4 KB
2048x1536
836,7 KB